量子デバイス走査型電子顕微鏡高精度顕微鏡 At4000proat3200

高解像度イメージング：30kVで3nmの解像度を実現し、詳細なナノ材料の特性評価を可能にします。

低電圧対応：デリケートなサンプルに対して、ビームによる損傷を軽減し、真の表面形態を観察できます。

低真空観察：コーティングなしで、絶縁性のサンプルを直接観察でき、電荷効果を排除します。

インテリジェント自動化：ワンクリックで自動フォーカス、スティグマ補正、および輝度調整が可能です。

広い視野：異なるスケールでの分析や、生物サンプルの全体的な形態観察を容易にします。

多重情報イメージング：SE（二次電子）とBSE（後方散乱電子）の同時観察をサポートし、形態と組成を同時に観察できます。

カスタマイズオプション：設計から、OEMおよびODMサービスまで、フルカスタマイズが可能です。

多様な用途：ナノ材料、半導体、生物学などの研究や教育に最適です。