電子機器用USBインターフェース欠陥スキャン向けKathmatic外観検査装置

KNシリーズは、サブミクロンの高精度な顕微鏡技術を備えており、検査対象全体の微細構造を詳細に表示できます。20倍から10000倍までの多段階の倍率調整が可能で、高精度な微細観察を実現します。

AI（人工知能）の深層学習技術モジュールを搭載しており、複雑な欠陥を正確に識別し、少ないサンプル数でも迅速に適応できます。その知能的な認識能力は、従来の目視検査を大きく上回ります。

グラフィカルな可視化プログラミング技術を採用しており、コードを書くことなく、操作要素をドラッグ＆ドロップするだけでプロセスを構築できます。これにより、開発のハードルが大幅に低減され、導入期間が短縮されます。

超高精度な対物レンズ、着脱可能な複合光源、そして深度合成画像技術を統合することで、より鮮明な画像を得ることができ、高反射性や透明性の高いワークピースも正確に検出できます。

マルチチャンネル、多段階の自動倍率技術を採用しており、20倍から10000倍までの幅広い倍率をカバーし、ワンクリックで切り替えが可能です。様々なワークピースや検査環境に対応できます。