光学プロファイラー白色干渉計三次元測定顕微鏡材料微細分析用

価格は、モデルや構成によって異なります。お手数ですが、ご連絡先をお知らせください。担当の技術者が、お客様のご要望に基づいて見積もりを作成いたします。

はい、この機器のソフトウェアは自社で開発しており、機器に同梱されています。そのため、生涯にわたってご利用いただけます。 このソフトウェアは、私のニーズに合わせてカスタマイズや修正ができますか？ それは、具体的な状況によります。詳細なご要望をお知らせいただければ、対応可能かどうかを評価させていただきます。

半導体、3Cエレクトロニクス（コンピューター、通信、家電）、リチウム電池、太陽光発電、精密金型、自動車、医療機器、科学研究機関および大学など、幅広い分野で使用されています。チップパッケージ、はんだボールの欠陥、携帯電話部品、電池の電極、金型の傷、医療機器などの測定に対応しています。具体的な測定ニーズがある場合は、オンラインカスタマーサービスにお問い合わせいただければ、技術エンジニアにご案内いたします。

KMシリーズ：自動3D画像計測システム（2D＋3D、超高深度、共焦点、膜厚測定機能搭載）。バッチ計測とフルオートメーションに対応。 KCシリーズ：3-in-1の高精度測定顕微鏡。ナノレベルの表面形状/粗さ/膜厚測定が可能で、半導体や金型などの分野で広く利用されています。 KSシリーズ：超高深度の3Dデジタル顕微鏡。深Depth of Field（深度）、高精細の画像合成、微細観察機能を搭載し、科学研究や品質管理の分野で一般的に使用されています。

製品の規格は、お客様のご要望に応じてカスタマイズ可能です。具体的なご要望をお知らせください。内容を確認し、お客様のご要望にお応えできるかどうかを評価いたします。