3 に 1 精密レーザースキャン測定共焦点顕微鏡による材料の微細分析

価格は、モデルや構成によって異なります。お手数ですが、ご連絡先をお知らせください。担当の技術者が、お客様のニーズに合わせた見積もりをご提供いたします。

はい、この機器のソフトウェアは自社で開発しており、機器に同梱されています。これにより、ソフトウェアは生涯にわたってご利用いただけます。 お客様のニーズに合わせてカスタマイズや変更は可能でしょうか？ それは具体的な状況によります。詳細なご要望をお知らせいただければ、対応可能かどうかを評価いたします。

半導体、3Cエレクトロニクス、リチウム電池、太陽光発電、精密金型、自動車、医療、科学研究機関および大学など、幅広い分野に対応しています。チップパッケージ、半田ボールの欠陥、携帯電話部品、バッテリーの電極、金型の傷、医療機器などの測定に対応しています。具体的な測定ニーズがある場合は、オンラインカスタマーサービスにご連絡いただければ、技術担当者が対応いたします。

KMシリーズ：自動3D画像計測システム（2D＋3D、超高深度、共焦点、膜厚測定機能搭載）。バッチ測定と完全自動化に対応。 KCシリーズ：3つの機能を備えた精密測定顕微鏡。ナノレベルの表面形状、粗さ、膜厚を測定可能。半導体や金型などの分野で広く使用されています。 KSシリーズ：超高深度の3Dデジタル顕微鏡。深深度、高解像度画像合成、微細観察機能を搭載。科学研究や品質管理の分野で広く使用されています。

製品の規格は、お客様のご要望に応じてカスタマイズ可能です。具体的なご要望をお知らせいただければ、その実現が可能かどうかを評価させていただきます。