半導体部品試験機器用インピーダンスアナライザー Th2851 シリーズ

高精度測定：オートバランスブリッジ技術により、0.08%という高い基本精度を実現し、信頼性の高い測定結果を提供します。

広い周波数範囲：10Hzから130MHzまでの広範囲の周波数に対応し、部品の総合的な分析が可能です。

高速テスト：最速で5msのテスト速度を実現。5つのシフトオプションにより、速度と精度をバランスさせることができます。

大型タッチスクリーン：1280x800の解像度を持つ10.1インチの静電容量式タッチスクリーンにより、鮮明な表示が可能です。

高度なグラフスキャン：4チャンネルのグラフィックスキャン機能を搭載。16種類の分割画面モードと、個別のカーブのソートが可能です。

多パラメータ分析：1601ポイントのリストスキャンと、4つのパラメータの測定に対応し、複雑なテストにも対応します。

多様な接続性：RS232C、USB、LAN、GPIB、およびハンドラーインターフェースを搭載し、柔軟なシステムへの統合が可能です。

幅広い応用範囲：半導体、受動部品、誘電体、および磁性材料など、幅広い分野での利用に適しています。