太陽光モジュール欠陥試験用全自動ELテスター

AIを活用した欠陥検出：深層学習ニューラルネットワークを使用して、高速かつ信頼性の高い自動欠陥検出を実現します。

高解像度画像：24MP CMOSカメラと8K産業用カメラを搭載し、微小なひび割れを検出します。

調整可能な検査パラメータ：露光時間（1～30秒）、電圧（0～60V）、電流（0～20A）を連続的に調整可能です。

デュアル50インチ液晶ディスプレイ：撮影後、部品の詳細を迅速かつ容易に確認するための大画面表示を提供します。

スマートなデータ管理：画像を欠陥の種類/時間ごとにフォルダに保存し、検索、削除、エクスポートに対応します。

カスタマイズされた生産サポート：従来型、ハーフカット、MBB、シングルド、ヘテロ接合、トップコンといった様々な製造プロセスに対応しています。

グローバルなアフターサービスネットワーク：米国とインドに現地エンジニアが在籍しており、南インドでは6時間以内、北インドでは12時間以内に対応します。

堅牢な鋼構造：高い強度と安定性を備え、ダブルのスライドレールとPUベルトを採用し、傷を防ぎます。